nous intéressons à la détection et à la localisation de défauts dans des systèmes dynamiques en combinant simultanément l’analyse en composantes principales et la transformée en ondelettes. Ce procédé d’analyse et de traitement, connu souvent sous le nom de MSPCA, permet à la fois l’extraction de la corrélation entre les différents capteurs (approche ACP) et le calcul de l’auto corrélation pour chaque capteur (approche ondelette).

suite DETECTION1\geninput_dynamique.m
................\MESURE1.M
................\MESURES.M
................\mesure_dynamique.m
suite DETECTION1

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